{"id":106456,"date":"2026-02-19T21:00:00","date_gmt":"2026-02-20T00:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/staging.portaltela.com\/noticias\/2026\/02\/19\/pesquisas-exploram-materiais-na-escala-atomica\/"},"modified":"2026-02-19T21:00:00","modified_gmt":"2026-02-20T00:00:00","slug":"pesquisas-exploram-materiais-na-escala-atomica","status":"publish","type":"post","link":"http:\/\/18.210.195.80\/materiais\/2026\/02\/19\/pesquisas-exploram-materiais-na-escala-atomica\/","title":{"rendered":"Pesquisas exploram materiais na escala at\u00f4mica"},"content":{"rendered":"<p>MIT.nano ampliou seu conjunto de ferramentas de caracteriza\u00e7\u00e3o com a adi\u00e7\u00e3o de um aparelho de difra\u00e7\u00e3o e imageamento por raio-x (XRD): o Bruker D8 Discover Plus. O equipamento oferece uma fonte de raio-x de cobre de alto brilho e foco micro, adequado para medir \u00e1reas pequenas de amostras de filmes finos com um detector de grande \u00e1rea.<\/p>\n<p>O sistema est\u00e1 instalado na SEF de difra\u00e7\u00e3o e imageamento por raio-x, dentro do grupo Characterization.nano. Nele, pesquisadores podem inspecionar superf\u00edcies, camadas e estruturas internas sem danificar o material, gerando imagens 3D que ajudam a mapear composi\u00e7\u00e3o e organiza\u00e7\u00e3o.<\/p>\n<p>A novidade facilita a identifica\u00e7\u00e3o de fases cristalinas, tamanho de gr\u00e3o e orienta\u00e7\u00f5es cristalinas, entre outros dados. A configura\u00e7\u00e3o aumenta a capacidade de an\u00e1lise de pesquisadores em v\u00e1rias \u00e1reas, como eletr\u00f4nica, armazenamento de energia, sa\u00fade e nanoci\u00eancia.<\/p>\n<h3>Novo equipamento e impacto<\/h3>\n<p>O Bruker D8 Discover Plus substitui dois aparelhos antigos na institui\u00e7\u00e3o, trazendo avan\u00e7os tecnol\u00f3gicos para o MIT.nano. Entre os destaques, est\u00e1 a fonte de raio-x de cobre de alta riqueza de brilho, capaz de produzir feixes intensos em \u00e1reas pequenas, de 2 mm at\u00e9 200 microns.<\/p>\n<p>Al\u00e9m disso, o equipamento introduz tamb\u00e9m o modo in-plane XRD, que permite estudos de difra\u00e7\u00e3o na superf\u00edcie de filmes finos com orienta\u00e7\u00f5es de gr\u00e3o n\u00e3o uniformes. Esse recurso \u00e9 especialmente \u00fatil para projetos que come\u00e7am na fabrica\u00e7\u00e3o de filmes.<\/p>\n<p>O conjunto inclui um software avan\u00e7ado para an\u00e1lise de dados, aumentando a capacidade de interpretar padr\u00f5es de difra\u00e7\u00e3o. Pesquisadores e usu\u00e1rios est\u00e3o recebendo treinamento sobre opera\u00e7\u00e3o do difrator e interpreta\u00e7\u00e3o dos dados estruturais.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<ul>\n<li>MIT.nano adicionou o difrat\u00f4metro de raios X Bruker D8 Discover Plus ao seu conjunto de ferramentas de caracteriza\u00e7\u00e3o, com foco na an\u00e1lise de materiais em escala nanom\u00e9trica.<\/li>\n<li>O equipamento utiliza uma fonte de raios X de cobre com alto brilho e foco micro (tamanho de regi\u00e3o de medi\u00e7\u00e3o entre 2 mm e 200 micr\u00f4metros), permitindo medir \u00e1reas pequenas de amostras de filmes finos.<\/li>\n<li>O sistema est\u00e1 instalado no SEF (facilidade compartilhada de difra\u00e7\u00e3o e imaging) da \u00e1rea Characterization.nano, que oferece imagens 3D detalhadas e mapeamento de composi\u00e7\u00e3o sem danificar o material.<\/li>\n<li>Entre os recursos, destaca-se a difra\u00e7\u00e3o no plano (in-plane XRD), \u00fatil para estudos de filmes finos com orienta\u00e7\u00f5es de gr\u00e3o n\u00e3o uniformes, especialmente ap\u00f3s deposi\u00e7\u00e3o na linha de fabrica\u00e7\u00e3o.<\/li>\n<li>Al\u00e9m de adquirir padr\u00f5es de difra\u00e7\u00e3o, a nova instrumenta\u00e7\u00e3o traz um conjunto de software avan\u00e7ado para an\u00e1lise de dados, com treinamento dispon\u00edvel para usu\u00e1rios.<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"author":15,"featured_media":106469,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"summary":"MIT.nano adiciona Bruker D8 Discover Plus, difra\u00e7\u00e3o de raios-X com fonte de cobre microfoco e detector de \u00e1rea, ampliando an\u00e1lises de materiais na nanoescala","footnotes":""},"categories":[1368,1563],"tags":[2854,85,2088,189,861,99],"class_list":["post-106456","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-engenharia","category-materiais","tag-ciencia","tag-inovacao","tag-pesquisas","tag-tecnologia","tag-tecnologia-e-inovacao","tag-universidades"],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO Premium plugin v27.2 (Yoast SEO v27.2) - https:\/\/yoast.com\/product\/yoast-seo-premium-wordpress\/ -->\n<title>Pesquisas exploram materiais na escala at\u00f4mica - Portal Tela (STAGING)<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"noindex, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"pt_BR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Pesquisas exploram materiais na escala at\u00f4mica\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"MIT.nano adicionou o difrat\u00f4metro de raios X Bruker D8 Discover Plus ao seu conjunto de ferramentas de caracteriza\u00e7\u00e3o, com foco na an\u00e1lise de materiais em escala nanom\u00e9trica. 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